Lyhenteet

- A / A +

Takaisin

SFS-EN IEC 61189-2-720:2024:en

Test methods for electrical materials, circuit boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-720: Detection of defects in interconnection structures by measurement of capacitance

Tuote ladattavissa heti Toimitusaika on noin 1 - 2 työpäivää Toimitusaika on noin 3 - 5 työpäivää
Soveltamisala
Suomenkielistä soveltamisalaa ei ole saatavissa.

IEC 61189-2-720:2024 provides a method to evaluate specific characteristics of circuit boards by measuring the capacitance between conductor traces and a ground plane and can be used for qualitative comparison of a test specimen to a reference board. This method is not intended for quantitative measurements and for assessment of conformity to a specification.

Tämän julkaisun valmistelusta Suomessa vastaa SESKO ry, puh. 050 571 6048.
Sidokset
Velvoittavat viittaukset
IEC 60194-2:2017
Vahvistuspäivä
26.04.2024
Julkaisupäivä
30.04.2024
Painos
1
Sivumäärä
14
Julkaisun kieli
englanti

Takaisin